- 產(chǎn)品詳情
1. X射線光譜儀的基本組成：
激發(fā)源：可以是初級X射線或電子束。
單色器晶體：用于分散入射光束的各種光譜成分。
輻射探測器：用于測量單色器分離出的各種光譜線的強度。
2. 單色器晶體：
晶體在X射線光譜學(xué)中的作用類似于光學(xué)中的衍射光柵。
晶體通過旋轉(zhuǎn)以滿足布拉格定律(2d sin θ = n λ)，其中n是衍射級數(shù)。
3. X 射線光柵晶體：
提供的晶體形狀包括平面和曲面。
平面晶體可以單獨提供或安裝在適合工業(yè)X射線熒光光譜儀的支架上。
曲面晶體通常用于微探針和掃描電子顯微鏡等儀器。
4. 晶體的類型
LiF、石英或 SiO2、InSb、Si、Ge、PET、ADP、Beryl、TlAP、RbAP、KAP 和 CsAP
5. Johann幾何(半聚焦)和Johansson幾何(精確聚焦幾何)：
Johann幾何：薄板通過裂解或機械加工制成，然后彎曲并粘合在曲率半徑為2R的支架上。
Johansson幾何：單面加工和雙面加工兩種配置。
