DaVinci微型測(cè)試插座Hypertronics
發(fā)布時(shí)間:2023-05-11 16:42:10 瀏覽:781
隨著數(shù)據(jù)信息技術(shù)的不斷進(jìn)步,移動(dòng)設(shè)備、平板筆記本甚至是汽車觸摸屏等移動(dòng)終端的系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)越來(lái)越復(fù)雜。Hypertronics的DaVinci微型測(cè)試座集成化CPU、GPU、AI、攝像頭處理設(shè)備、存儲(chǔ)空間、5G調(diào)制解調(diào)器等關(guān)鍵模塊,以盡量小的規(guī)格型號(hào)實(shí)現(xiàn)先進(jìn)性的高品質(zhì)應(yīng)用。
DaVinci微型測(cè)試插座需要在盡量小的規(guī)格尺寸中增加擴(kuò)展功能,從而把IC間隔降低到500μm以下。同時(shí),系統(tǒng)級(jí)芯片性能的提高會(huì)影響到管腳間噪聲或通常稱為測(cè)試時(shí)期的串?dāng)_。DaVinci微型測(cè)試插座全屏蔽信號(hào)通路,能夠降低測(cè)試中串?dāng)_產(chǎn)生的影響,大幅度提高測(cè)試芯片性能的正確性。
DaVinci微型測(cè)試插座綜合了DaVinci 56產(chǎn)品的性能優(yōu)勢(shì),選用精密的彈簧探頭設(shè)計(jì)規(guī)范和嚴(yán)苛的公差調(diào)節(jié)制作方式。與其他非同軸線設(shè)備相比較,DaVinci Micro高速測(cè)試座系列可明顯提高首檢測(cè)試合格率和最后芯片測(cè)試合格率。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
選用勻質(zhì)合金的彈簧探頭技術(shù)
信息號(hào)渠道 2.85mm測(cè)試高度
特征阻抗能夠和客戶原有PCB系統(tǒng)配對(duì),也可根據(jù)需要自定義,40、45、50歐姆阻抗(單端)。
串?dāng)_調(diào)節(jié)IM機(jī)殼
兼容-40°C至+125°C的三溫區(qū)插座設(shè)計(jì)
穩(wěn)定性接觸電阻120mΩ(Avg)。
適合于人工測(cè)試、操作臺(tái)測(cè)試和使用相同插座的大批量生產(chǎn)測(cè)試
主要用于BGA、LGA、QFN、DFN和其它封裝的解決方案,是最小間隔0.35mm的最佳選擇
建議選擇浮動(dòng)基座或不同種類針高低配備,使用過(guò)程中有效控制彈簧探頭
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
經(jīng)測(cè)試,接觸壽命高至500,000次
接觸渠道短,直流性能優(yōu)越
射頻帶寬高至30GHz@-1dBIL
降低針腳間的噪聲(串?dāng)_)。
精密機(jī)械加工的插座機(jī)殼確保穩(wěn)固的機(jī)械性能
可現(xiàn)場(chǎng)維修,替換單個(gè)探頭或整體陣列針,不需要額外培訓(xùn)
專利授權(quán)的絕緣金屬插座機(jī)殼,具備極佳的信號(hào)完整性和強(qiáng)度
配對(duì)客戶原有的PCB測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試硬件,為客戶控制成本
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