MTI Instruments半自動(dòng)計(jì)量系統(tǒng)
發(fā)布時(shí)間:2021-07-01 17:08:13 瀏覽:833
MTI Instruments半自動(dòng)計(jì)量系統(tǒng)是一種用于半導(dǎo)體和半絕緣質(zhì)料的臺(tái)式/臺(tái)式半主動(dòng)晶圓測(cè)量體系。基于 MTII 獨(dú)有的推挽電容技術(shù),MTI Instruments半自動(dòng)計(jì)量系統(tǒng)供應(yīng)完備的晶圓外貌掃描,用于厚度、厚度變更、蜿蜒、翹曲、sori、地位和整體平坦度。用戶界說(shuō)且合乎 ASTM/SEMI 的掃描模式用于生產(chǎn)完備的 3 維 (3D) 晶圓圖像。
MTI Instruments半自動(dòng)計(jì)量系統(tǒng)定制的數(shù)據(jù)匯報(bào)可用于稽查測(cè)量的每個(gè)晶片的表格數(shù)據(jù),并疾速、放松地導(dǎo)出到您的電子表格法式。
晶圓規(guī)格直徑: 150 毫米、200 毫米、300 毫米;
質(zhì)料:全部半導(dǎo)體和半絕緣晶片,包含 Si、GaAs、Ge、SiC、InP;
外貌:切割、研磨、蝕刻、拋光、圖案化;
平頭/缺口:全部 SEMI 規(guī)范平頭或缺口;
電導(dǎo)率: P 或 N 型;
特性
怪異的 MTI 電容傳感器,具有雋拔的精確性和可重疊性;
完備的 1000 μm 厚度測(cè)量局限,無(wú)需從新校準(zhǔn);
測(cè)量厚度、TTV、蜿蜒度、翹曲度和地位以及整體平坦度的Windows ?用戶界面;
ASTM 規(guī)范測(cè)量;
SEMI S2-0200 健康和安全合規(guī)計(jì)劃;
SEMI S8-0999 合乎人體工程學(xué)的計(jì)劃;
測(cè)量全部質(zhì)料,包含 Si、GaAs、Ge、InP、SiC ***只有體電阻率小于 20K Ohm/cm;
深圳市立維創(chuàng)展科技有限公司,優(yōu)勢(shì)直接渠道提供MTI Instruments訂貨服務(wù),歡迎咨詢。
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規(guī)格 | 范圍 | 準(zhǔn)確性 | |
厚度 | ASTM F533 | +/- 500 微米 | +/- 0.25 微米 |
電視 | ASTM F657 | +/- 500 微米 | +/- 0.25 微米 |
弓 | ASTM F534 | +/- 250 微米 | +/- 2.0 微米 |
經(jīng) | ASTM F1390 | +/- 250 微米 | +/- 2.0 微米 |
索里 | ASTM F1451 | +/- 250 微米 | +/- 2.0 微米 |
平整度(現(xiàn)場(chǎng)) | ASTM F1530 | 8 毫米 * | +/- 0.15 微米 |
平整度(全球) | ASTM F1530 | 8 毫米 * | +/- 0.15 微米 |
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